NI测试测量技术研讨会再次起航，以AI+测试为主题，走遍全国多个城市，与全国各地朋友相聚，共同探讨AI+测试的落地，共赢智能测试的未来。
聚焦“测试 + AI”前沿趋势，探讨 AI 如何真正赋能测试开发流程
深度解析 NI Nigel™ AI如何提升 LabVIEW 与 TestStand 的工作效率
分享 PXI 平台自动化测试方案，加速系统级测试构建
多个专题覆盖光电、高速 ADDA 等关键测试方向
前沿射频应用方案及案例
现场 Demo 参观与互动交流，直观了解方案应用场景
测试测量工程师、研发工程师
工程团队负责人，技术总监
院校及研究所研究人员
LabVIEW爱好者，开发者
2026年6月16日（星期二）
14:00-17:25（12:30开始签到）
（地址：成都市郫都区高新西区西芯大道1号）
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