近日,充电头网了解到,基本半导体围绕SiC MOSFET驱动中的负压关断问题进行了技术解析。

对于不少电源工程师而言,SiC MOSFET往往与负压关断绑定使用,但从实际拓扑来看,负压并非所有SiC应用的必选项。
基本半导体指出,负压关断的核心作用之一,是抑制桥式拓扑中互补开关管之间的米勒串扰。对于反激、正激、Buck以及传统Boost PFC等不存在互补开关管的拓扑,则可以采用0V关断,省去额外的负压生成电路。
负压关断主要解决什么问题?
SiC MOSFET的开关速度明显高于传统硅MOSFET,漏源电压变化率dv/dt可达到50~100V/ns。高速开关能够降低开关损耗,但也让器件对寄生参数和驱动回路更加敏感。
在半桥等桥臂拓扑中,当高边MOSFET高速开通时,低边MOSFET的VDS会快速变化。这个高速dv/dt会通过低边器件的栅漏电容Cgd,也就是米勒电容,向栅极注入位移电流。
如果驱动回路抗干扰能力不足,位移电流可能在栅极产生瞬态VGS尖峰,将原本处于关断状态的MOSFET重新抬升至阈值电压以上。SiC MOSFET的阈值电压通常约为2.7~4V,一旦发生误开通,上下桥臂同时导通,就可能形成直通短路。

从图中可以看到,高边Q1高速开通时,低边Q2承受快速变化的VDS,Cgd产生的位移电流会流入栅极,并形成瞬态VGS尖峰。
米勒串扰的形成通常包含三个关键条件:高dv/dt、Cgd耦合通道,以及另一只处于关断状态的互补开关管。其中前两项来自器件自身特性,而是否存在互补开关,则由具体拓扑决定。
这也意味着,判断SiC MOSFET是否需要负压关断,不能只看器件本身,更要看它工作在什么拓扑中。
单管拓扑为何可以采用0V关断?
反激是消费类适配器、辅助电源等场景中非常典型的单管拓扑,初级功率回路只有一只主开关MOSFET,不存在另一只与其构成互补关系的高速功率管。

在MOSFET关断过程中,其漏极电压同样会快速上升,dv/dt也会通过自身Cgd影响栅极。但这种作用属于器件自身的电容耦合,不存在桥臂结构中“一只MOSFET开通,干扰另一只MOSFET”的跨器件路径。
因此,从米勒串扰和桥臂直通这一角度来看,反激拓扑并不依赖负压关断,可以采用0V关断方案。相比负压关断,其主要代价是关断速度有所降低,并带来一定的额外关断损耗。
正激、Buck同样不存在互补开关串扰
相同的判断逻辑也适用于单管正激和传统Buck拓扑。
单管正激通过一只主开关管控制变压器初级能量传递,并没有半桥、全桥结构中的高速互补开关,因此不存在另一只功率MOSFET受到米勒耦合后发生误导通的问题。

Buck拓扑则由主动开关、续流器件以及储能电感组成,基本功率级同样只有一只主动开关。

对于这类拓扑,开关节点的dv/dt主要作用于器件自身,不会形成桥臂拓扑中的跨器件串扰路径,因此从抗米勒误导通的需求来看,可以采用0V关断,无需额外增加负压生成电路。
传统Boost PFC与图腾柱PFC要区别看待
PFC是另一个容易产生误解的应用。
传统Boost PFC由一只主动MOSFET、升压电感以及续流二极管构成,本质上仍属于单管升压结构。

由于不存在另一只高速互补MOSFET,传统Boost PFC与反激、Buck的判断逻辑基本一致,采用0V关断即可避免增加额外的负压驱动电路。
但图腾柱PFC则不同。
图腾柱PFC为了进一步降低整流损耗,高频桥臂通常采用两只功率MOSFET工作,已经属于典型的桥臂结构。当一侧器件高速开关时,另一侧器件就可能受到高dv/dt以及Cgd耦合影响,产生米勒串扰甚至误开通。
因此,图腾柱PFC需要重点关注负压关断,以提高关断状态下的抗干扰裕量。
换句话说,不能简单地认为“PFC就一定需要负压”,真正决定驱动方案的还是具体电路结构。
两只开关管,也不一定属于桥臂结构
判断是否需要负压关断,也不能简单按照开关管数量进行划分。
以双管正激为例,虽然初级侧使用两只MOSFET,但两只器件采用同时开通、同时关断的工作方式,并不是半桥、全桥中交替工作的互补开关关系。

因此,双管正激并不存在典型的“一侧高速开通,导致另一侧关断器件受到米勒串扰”的工作条件,也不存在传统桥臂结构中的上下管互补直通路径。
双管反激同样属于类似情况,两只功率器件采用同开同关方式,因此从米勒串扰角度来看,也可以采用0V关断。
省掉负压,也存在一定取舍
0V关断能够降低驱动电路复杂度,但并不意味着没有任何代价。
负压关断除了能够提高MOSFET关断状态下的抗干扰裕量之外,还可以扩大VGS驱动摆幅,更快抽取栅极电荷,从而缩短器件关断时间。
相比之下,0V关断的栅极摆幅较小,关断速度会有所下降,因此关断损耗Eoff也会略有增加。
从系统层面来看,两种方案实际上是在效率、成本以及电路复杂度之间进行取舍。

对于消费类适配器、中小功率电源等成本和空间相对敏感的产品,0V关断可以省去负压生成电路或相关专用驱动方案,有利于减少外围器件、降低PCB面积和BOM成本。
如果产品更加追求转换效率,或者工作温度较高、需要进一步提升栅极抗干扰能力,即便是单管拓扑,也可以继续采用负压关断作为性能优化方案。这类设计更多属于进一步优化,而不是单管拓扑本身的必要条件。
不同拓扑该如何选择?
综合来看,SiC MOSFET关断电压的选择,首先需要判断功率级中是否存在高速互补开关。
反激、单管正激、Buck以及传统Boost PFC等拓扑,没有典型的互补开关串扰路径,可以采用0V关断;图腾柱PFC以及半桥、全桥等桥臂结构,则需要重点考虑dv/dt引发的米勒串扰和误开通问题。
而对于双管正激、双管反激等采用“同开同关”的拓扑,即便功率管数量增加,也不能简单归入高速互补桥臂结构,仍需根据实际开关时序进行判断。

部分新一代沟槽栅SiC MOSFET正在通过提高阈值电压、降低Crss以及提升Ciss/Crss比值等方式,进一步增强器件本身的抗误导通能力。这意味着部分桥臂应用未来也具备探索0V关断的条件。
不过,这属于器件自身抗串扰能力提升,与单管拓扑天然不存在互补开关串扰路径,是两套不同的技术逻辑。
充电头网总结
SiC MOSFET是否需要采用负压关断,并不存在统一答案。
从分析来看,负压关断最重要的作用之一,是解决桥式拓扑中高速dv/dt通过Cgd引发的米勒串扰和误开通问题。因此,对于半桥、全桥、图腾柱PFC等存在高速互补开关的功率级,负压关断能够进一步提高系统抗干扰能力。
而对于反激、单管正激、Buck、传统Boost PFC以及部分同开同关的双管拓扑,则不存在相同的跨器件串扰路径,可以在效率、成本、PCB面积以及驱动复杂度之间进行权衡,选择0V或负压关断方案。
对于电源工程师而言,SiC MOSFET驱动设计的重点并不是简单遵循“SiC必须负压”的经验,而是从器件参数、拓扑结构和开关时序出发进行判断,在保证可靠性的基础上减少不必要的外围电路,这也是SiC器件进一步走向高集成、高功率密度应用的重要一环。