展商推介 | 昂科将亮相2026湾芯展

昂科致力于为全球半导体行业提供创新的芯片测试技术与解决方案。公司在全球首创堆叠式大容量测试系统，为DDR、LPDDR、HBM、UFS、eMMC、NAND、SSD等应用提供极具竞争力的SLT、Burn-In创新测试解决方案。

产品在超高并行测试能力（1680DUT）、超高精度独立温控、测试压力控制精度等方面均处于行业领先地位。

公司面向Fabless、IDM、OSAT、晶圆厂及终端设备企业等全产业链客户，提供从PSV、CP、FT、ABI、SLT到烧录全流程设备与解决方案。

■高效赋能嵌入式产品测试

■兼容支持FT2老化测试

■超高UPH、高可靠、全自动化

昂科V9000-G3测试解决方案，针对eMMC/UFS产品实现高效、高质量SLT测试。方案可灵活搭配外设，全自动化运行降低人为失误。创新并列堆叠设计，支持4480DUTs同测，高UPH且可灵活扩容换线。独立温控与压力控制，支持三温精准测试，全流程可追溯，满足车规等高可靠要求。

■满足电源模块老化测试苛刻条件

■真正全自动化测试

■节约运营成本，提升产能增效

昂科在AI电源模块的老化测试领域深耕多年，V9000-ABI电源老化测试设备以其高并测数、大电流全拉载、独立温控等关键技术能力，已经成为该领域的客户必选产品。产品是全球首款规模化并列堆叠式老化测试设备，用于AI服务器的电源模组和车载电源芯片的全自动老化测试分选一体机，支持常温到高温的老化测试及分选。

■高效赋能LPDDR测试

■超大容量、高可靠、全自动化

昂科V9000-SLT测试设备，针对LPDDR4/5产品实现高效、高质量SLT测试。方案可灵活搭配外设，全自动化运行降低人为失误。创新并列堆叠设计，支持1680DUTs同测，高UPH且可灵活扩容换线。独立温控与压力控制，支持三温精准测试，全流程可追溯，满足车规等高可靠要求。

■高效赋能嵌入式产品测试

■超高UPH、高可靠、全自动化

昂科FT1、FT3、FT4量产测试机(128/256/320DUT测试解决方案)，针对嵌入式产品实现高效、可靠性测试。方案可灵活搭配外设，全自动化运行降低人为失误。支持128/256/320DUTs同测，高UPH且可灵活扩容换线。独立温控与压力控制，支持常高温(三温选配)精准测试，全流程可追溯，满足车规等高可靠要求。