边缘 AI 动态电流测试痛点：这场研讨会给你答案

边缘 AI 设备（芯片、物联网终端、MEMS 传感器等）的研发中，高带宽动态微小电流 / 电压测量 是绕不开的技术死结：

• 物联网模块的瞬态功耗如何精准捕获？

• MEMS 器件的皮安级暗电流怎样突破噪声干扰？
• 通用仪表（DMM、电流探头）在高频场景为何失效？

四大技术模块，直击测试核心痛点

Keysight 这场研讨会，聚焦 “工具选型→场景适配→极限突破” 逻辑，拆解工程师最关心的技术命题：

1. 通用仪表的 “能力边界” 剖析

数字万用表（DMM）、示波器电流探头的 带宽、采样率、噪声 缺陷如何影响动态电流测试？通过对比分析，帮你建立 “场景 - 工具” 精准匹配模型，避免方案冗余或失效。

2. 直流电源分析仪的 “长时动态测试” 解法

针对物联网 / 穿戴设备的 毫秒级瞬态电流 + 数小时功耗监测 需求，解析直流电源分析仪如何通过 高采样率 + 连续记录 还原完整功耗曲线，赋能低功耗设计验证。

3. 精密源表 SMU 的 “纳安级突破”

MEMS、绝缘材料的 纳安 / 皮安级暗电流测量，核心难点是噪声与分辨率。研讨会将揭秘精密源表 SMU 如何通过 极低噪声架构 + 偏置控制 突破测量极限。

4. 高速采样 + 超低噪声的 “协同策略”

驱动电路等高带宽场景中，“带宽 - 噪声” 矛盾 如何破解？解析高速采样技术与超低噪声分析仪的协同测试方法，攻克高频动态信号测量痛点。

为什么值得技术工程师参与？

• 专家背书
  ：Keysight 电源及测量领域专家 吕宝华、市场经理 饶骞 主讲，技术原理 + 实际场景双维度拆解；
• 实用导向
  ：不空谈理论，只讲 “测试手段优劣对比 + 应用场景适配”，直接指导方案设计；
• 福利加持
  ：参与直播抽奖，赢取倍思耳机、iPad 周边、HD3 组装玩具等硬核好礼（以实物为准）。