
来源:NPL新闻
NPL研究人员在kHz至MHz频率范围内工作的同轴设备阻抗的计量溯源性方面取得了重大进展。

从历史上看,在低频,特别是1kHz到1MHz之间实现同轴器件阻抗的溯源性带来了挑战。在这些频率下获取和表征参考标准的困难导致采用了插值等替代方法,这可能会导致测量结果的不确定度增加。
NPL的交流和射频计量学家开发了一种使用LCR仪表对同轴连接器设备的阻抗进行溯源性可测量的新方法。该仪器通常用于测量电容器、电阻器和电感器等低频标准,已被调整为与N型同轴设备接口。利用可追踪的短路和开路标准的校准方法已成功应用于这些设备的可追踪阻抗测量。与现有的矢量网络分析仪(VNA)方法相比,这种新的测量技术提供的阻抗和反射系数测量结果的不确定度显著降低,在某些情况下甚至低十倍。
弥合交流和射频溯源性之间的差距,有可能通过提高这些广泛使用的频率的测量精度,为电信、量子和能源部门带来好处。
高级科学家James Skinner说:以一种新颖的方式使用现有技术,显著提高了测量能力。这项工作是射频计量领域的一个真正突破,该领域几十年来一直面临挑战。
首席科学家兼科学领域负责人Murat Celep表示:这种创新能力在射频计量领域具有广泛的适用性,并发表在《IEEE 仪器与测量杂志》(IEEE Instrumentation & Measurement Magazine)上的一篇文章中有所记录。
编译:曹歆
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