邀请：AI+芯片测试机遇技术研讨会厦门站（2026.1.21）

NI测试测量技术研讨会再次由深圳起航，以AI+测试为主题，走遍十个城市，与全国各地朋友相聚，共同探讨AI+测试的落地，共赢智能测试的未来。

活动时间

2026年1月21日（星期三）

13:30-17:10（12点开始签到）

活动地点

厦门喜来登酒店

（地址：福建省厦门市湖里区嘉禾路386-1号）

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码上报名

NI测试测量技术研讨会厦门站

• 分享最新AI+测试进展，深入探讨如何实现技术落地

• 技术专家面对面分享：最新测试技术成果，提高测试精度技巧，并为您解读各种疑难问题

• 多款全新软硬件产品发布，AI助手Nigel^™，全新PXI控制器/机箱/模块，全新DAQ产品，全新USRP产品

• 测试测量工程师、研发工程师

• 工程团队负责人，技术总监

• 院校及研究所研究人员

• LabVIEW爱好者，开发者

• NI Nigel^™ AI助手体验

• 通过配置快速完成PXI自动化测试任务（InstrumentStudio^™软件展示）

• 快速完成传感器配置与数据记录（FlexLogger^™软件展示）

• 射频通信原型验证平台USRP更新

• 全新数据采集产品（DAQ）更新

• 24bit高精度模数转换芯片（ADC）芯片测试系统

• 多通道、大电流电源管理芯片(PMIC)测试系统

• 全新双通道矢量信号收发仪VST-5860