NI AI + 芯片测试技术研讨会(苏州站)

EETOP 2026-06-25 07:43
NI AI + 芯片测试技术研讨会(苏州站)图1
PART 1







研讨会基本信息







NI测试测量技术研讨会再次起航,以AI+测试为主题,走遍全国多个城市,与全国各地朋友相聚,共同探讨AI+测试的落地,共赢智能测试的未来。


NI AI + 芯片测试技术研讨会(苏州站)图2
活动时间


2026年7月7日(星期二)

14:00-17:25(12:30开始签到)


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活动地点


苏州园区洲际酒店 二楼大宴会厅C

(地址:苏州市工业园区旺墩路288号


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码上报名
NI测试测量技术研讨会苏州站





PART 2







为什么参会?







  • 聚焦 AI + 测试前沿趋势,探索智能化测试开发的新方向

  • 深度解析 NI Nigel AI 如何赋能 LabVIEW 与 TestStand,提升工程开发效率 

  • 抢先了解新一代 USRP 平台与 AI 驱动的无线通信应用创新

  • 分享 AI 高能效基础设施工程设计与系统级测试实践

  • 覆盖光电、高速 ADDA、相控阵天线等关键测试方向

  • 现场 Demo 演示与互动交流,直观体验真实工程应用场景


PART 3







谁适合参加?







  • 测试测量工程师、研发工程师

  • 工程团队负责人,技术总监

  • 院校及研究所研究人员

  • LabVIEW爱好者,开发者


PART 4







日程安排







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PART 5







实机展示







  • NI NigelTM  AI助手体验

  • 多通道多信号类型数据采集与分析框架

  • 通过配置快速完成PXI自动化测试任务

  • 人形机器人半实物仿真测试  (Video)

  • 通用HIL测试与信号调理硬件平台

  • AI 驱动的 NVH 异常检测一体化解决方案

  • 光电子应用测试方案

  • 20bit高精度ADC芯片测试系统

  • sbRIO超声波产测单元

  • PXle-7820的超声波模拟器Adapter

  • 卫星导航模拟器




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NI测试测量技术研讨会苏州站









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