2025年8月8日至10日，《计测技术》学刊受邀参加了由中国工程院指导，中国仪器仪表学会和哈尔滨工业大学共同主办，中国仪器仪表学会显微仪器分会、北京信息科技大学等联合承办的第四届显微仪器技术国际高层论坛（International Forum on Microscopy， IFM2025）在浙江举行。中国仪器仪表学会副理事长、哈尔滨工业大学精密仪器工程研究院院长谭久彬院士担任大会主席并主持会议。牛津大学Tony Wilson院士，中国仪器仪表学会副理事长、秘书长张彤，北京信息科技大学副校长王兴芬教授出席大会并致辞。
张彤致辞
王兴芬教授致辞
哈尔滨工业大学精密仪器工程研究院院长谭久彬教授担任大会主席并主持会议。谭久彬院士指出：“随着新一轮科技革命和工业革命的到来，显微仪器技术必然迎来前所未有的巨大挑战和发展机遇。本次论坛邀请国际显微仪器领域的高层科学家与专家，就国际显微仪器领域面临的重大机遇、重大科学问题和关键技术问题进行研讨，交流国际显微仪器领域最新重大进展，判断未来5年和10年显微仪器技术的发展方向和技术路线，判断国际显微仪器产业发展趋势，进而提出促进世界显微仪器科学研究与产业发展的建议，共同促进世界范围内显微仪器技术的发展。”来自中国、美国、英国、德国、日本、加拿大、澳大利亚、荷兰、西班牙、意大利、俄罗斯、奥地利、伊朗和中国香港等14个国家和地区的300余名现场参加研讨，5万余人次在线观看会议直播和图文直播。
大会邀请浙江大学张泽院士，美国加州理工Lihong Wang院士，qPlus原子力显微镜发明人、德国雷根斯堡大学Franz Josef Giessibl教授，英国牛津大学Martin Booth教授，悉尼科技大学Dayong Jin院士、欧洲光学学会前主席、荷兰代尔夫特理工Paul Urbach教授，西班牙马德里自治大学Daniel Jaque García教授，北京大学陈良怡教授等国际著名专家作大会报告。
Lihong Wang 院士作报告
Franz Josef Giessibl 教授作报告
Martin Booth 教授作报告
Dayong Jin 院士作报告
Paul Urbach 教授作报告
Daniel Jaque García 教授作报告
分论坛分为10个分会场、共计64个分会邀请报告。与会专家学者结合光学显微仪器技术、扫描探针显微仪器技术、电镜显微仪器技术和超声显微仪器技术等显微仪器技术各个分支方向的不同特点，交流了重大研究进展与突破、目前存在的重大科学问题与关键技术问题、具有发展优势的新技术路线，探讨了因学科交叉衍生出的新原理、新技术和新方向，并对该领域未来10年的发展趋势与特点、新的应用背景和可能产生的新突破进行了探索与研判。
分会场研讨
除主论坛、分论坛的学术交流与研讨以外，论坛还以闭门会议形式进行“高端显微仪器发展战略”研讨，研讨会由谭久彬院士主持。与会代表深入探讨了我国高端显微仪器自主研制的关键技术“卡点”和国产化“堵点”，高端显微仪器创新链、产业链、供应链、人才链、资金链的韧性和安全性，高端显微仪器产业基础高级化、产业链现代化的着力点和发展路径，未来10-15年高端显微仪器领域重大应用场景战略需求、重大科学问题、仪器新形态、产业新业态和产业发展全景路线图，当前国家测量体系对高端显微仪器产业支撑能力，面向2040年的新一代国家测量体系等问题，并达成初步共识。 哈工大全媒体（王伟波/文 会务组/图）
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