NI测试测量技术研讨会再次起航，以AI+测试为主题，走遍全国多个城市，与全国各地朋友相聚，共同探讨AI+测试的落地，共赢智能测试的未来。
聚焦“测试 + AI”前沿趋势，探讨 AI 如何真正赋能测试开发流程
深度解析 NI Nigel™ AI如何提升 LabVIEW 与 TestStand 的工作效率
分享 PXI 平台自动化测试方案，加速系统级测试构建
多个专题覆盖光电、高速 ADDA 等关键测试方向
前沿射频应用方案及案例
现场 Demo 参观与互动交流，直观了解方案应用场景
测试测量工程师、研发工程师
工程团队负责人，技术总监
院校及研究所研究人员
LabVIEW爱好者，开发者
NI NigelTM AI助手体验
多通道多信号类型数据采集与分析框架
通过配置快速完成PXI自动化测试任务
6G AI 通信开发平台
全新软件定义无线电产品X420
大数据量射频信号高速录制回放系统
基于 JESD204B 协议的高速ADC测试方案
DIGILENT工程教学实验测量平台
