芯片测试测量技术研讨会（成都）

NI测试测量技术研讨会再次起航，以AI+测试为主题，走遍全国多个城市，与全国各地朋友相聚，共同探讨AI+测试的落地，共赢智能测试的未来。

• 聚焦“测试 + AI”前沿趋势，探讨 AI 如何真正赋能测试开发流程

• 深度解析 NI Nigel™ AI如何提升 LabVIEW 与 TestStand 的工作效率

• 分享 PXI 平台自动化测试方案，加速系统级测试构建

• 多个专题覆盖光电、高速 ADDA 等关键测试方向

• 前沿射频应用方案及案例

• 现场 Demo 参观与互动交流，直观了解方案应用场景

• 测试测量工程师、研发工程师

• 工程团队负责人，技术总监

• 院校及研究所研究人员

• LabVIEW爱好者，开发者

活动时间

2026年6月16日（星期二）

14:00-17:25（12:30开始签到）

活动地点

成都新希望皇冠假日酒店，蜀榕厅

（地址：成都市郫都区高新西区西芯大道1号）

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码上报名

NI测试测量技术研讨会成都站