展商推介 | JEOL日本电子将亮相2026湾芯展

捷欧路（北京）科贸有限公司是日本电子株式会社（JEOL Ltd.）在中国设立的全资子公司，全面负责 JEOL 品牌在中国市场的业务运营、产品销售与技术服务。

公司深耕高端科学仪器与工业设备领域，主营透射电子显微镜、场发射扫描电子显微镜、电子探针显微分析仪、核磁共振波谱仪等全系列产品，为国内高校、科研院所及半导体、工业制造领域客户提供定制化设备解决方案、安装调试、售后运维与应用技术支持。依托 JEOL 全球技术积淀与国内本地化服务网络，持续助力客户提升科研创新能力与产业检测水平。

■JEOL是世界顶级科学仪器制造商，事业范围主要有电子光学仪器、分析仪器、测试检查仪器、半导体设备、销售和研发；其中电子光学仪器主要有透射电镜、扫描电镜、电子探针、俄歇电镜、光电子能谱及其周边设备等。

■以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜，不仅提高了空间分辨率和分析性能，还采用了新的操作系统可满足多种使用途径，易用性强，外观设计精炼，能为不同层次的用户提供新奇的操作体验。

■主要特点：

1.外观设计精炼

2.精炼的外型，全新的视觉感受。

3.为分析型电镜全新设计的GUI，使操作更加直观方便。

4.JEOL长年积累的丰富经验在设计上得到了充分的体现，与旧机型相比，电镜的机械性和电气稳定性都得到了很大的提高。

■四级聚光镜系统

现在的电子显微镜需要支持范围广泛的成像技术 — 从明场 / 暗场的TEM成像到使用各种检测器的STEM技术。

该设备采用新型四级聚光镜照射光学系统 — “Quad-Lens condenser system”，通过分别控制电子束强度和汇聚角，能满足各种研究的需求。

■高端扫描系统

JEM-F200可以实现大视野的STEM-EELS分析，该设备在常规的照明系统的电子束扫描功能之上，增加了新的扫描系统 — “Advanced Scan System” 即成像系统的电子束扫描功能（选配）。

■皮米样品台驱动

JEM-F200 采用能以皮米级步长移动样品台的Pico stage drive（不用压电驱动），能在宽动态范围移动视野，从样品的整个栅网视野移动到原子级图像视野移动都能进行。

■JEM-ARM300F2是GRAND ARMTM的第二代产品，该设备在性能上有了进一步的提高，无论采用怎样的加速电压都能获得超高空间分辨率图像和高灵敏度的元素分析。

■FHP2 新型物镜极靴

保证超高空间分辨率观察的同时，优化FHP物镜极靴的形状以满足大尺寸双SDDs（158mm²）的需求，x射线有效检测效率提高了两倍以上，实现亚埃级分辨率的EDS元素面分析。

■新型屏蔽体

TEM柱采用箱式外壳，可减少温度、气流、噪声等环境变化的影响，从而提高显微镜的稳定性。

■ETA 校正器 & JEOL COSMO™

快速准确的像差校正。

■稳定性提高

CFEG采用小型SIP泵，快速提高真空度，提高了发射体附近的真空、发射电流、探针电流的稳定性。其他改进也提高了显微镜的稳定性和对各种干扰的抵抗力。

■“NEOARM” 标配了日本电子独自开发的冷场发射电子枪（Cold-FEG）和全新的高阶球差校正器（ASCOR）。

■无论是在200kV的高加速电压还是在30kV的低加速电压下，均能实现原子级分辨率的观察与分析。同时还配备了自动像差校正系统，可以自动进行快速准确的像差校正。

■新STEM成像技术（e-ABF法）可以更加简便地观察到含有轻元素样品的高清晰（衬度）图像。