一企业推出 AR 近眼显示测量设备

随着 AR 近眼显示（Near-Eye Display，NED）技术不断向更高分辨率、更高亮度以及更复杂的光学结构发展，显示质量测量面临新的挑战。研发人员不仅需要评估虚像亮度和颜色，还需要对成像清晰度、几何畸变、色差等关键指标进行量化分析，为光学设计优化和显示性能评估提供测量数据。

针对AR 近眼显示的测量需求，Instrument Systems 推出 LumiTop X30 AR。这是一款专为 AR 近眼显示应用开发的高分辨率成像色度计，可用于研发、光学调校、工程验证及生产测试等多个阶段，对显示亮度、颜色及相关光学性能进行二维测量。

图：LumiTop X30 AR高分辨率成像色度计

▋ 面向AR 近眼显示优化的测量光学设计

LumiTop X30 AR 采用符合人眼视觉特性的测量光学设计，可模拟用户佩戴 AR 眼镜时的观察条件，对虚像亮度和颜色进行测量。AR 专用镜头采用固定焦距与固定入瞳（1–5 mm）设计，覆盖0.25m 至无穷远的测量距离范围，有助于获得一致、可重复的测试结果。

除标准直筒式镜头外，系统还可根据应用需求提供潜望式镜头版本，以适应已组装头戴式设备等空间受限场景的测量需求。

▋ 高分辨率成像支持多项显示性能评估

LumiTop X30 AR 配备 31 MP RGB CMOS 成像相机（6464 × 4852 px），提供最高 150 pixel/degree 的角分辨率，并具有 42° × 32° 的视场角，可覆盖 AR 近眼显示关键视觉区域。

在测量能力上，系统支持以下二维与点测量项目：

二维（2D）测量：
亮度、颜色、均匀性、对比度、畸变、MTF（调制传递函数）、色差
点测量（Spot）：
光谱、亮度、颜色、闪烁

通过上述测量项目，可对亮度分布、颜色一致性、成像质量及几何特性等指标进行分析，为AR 显示系统开发和性能验证提供参考。

▋ 光谱增强成像技术提升测量一致性

LumiTop X30 AR 基于Instrument Systems LumiTop 光谱增强成像色度计技术，将二维 RGB 成像与参考光谱测量相结合。在一次测量过程中，系统可同步获取二维亮度和色彩图像，并结合参考光谱数据，改善亮度和颜色测量的一致性。

此外，系统集成高速光电探测器，可用于闪烁及调制光源测试。镜头采用接近衍射极限的光学设计，可满足高分辨率近眼显示的测量需求。

▋ 满足AR 显示研发与测试需求

LumiTop X30 AR 可应用于 AR 眼镜及近眼显示系统的研发、光学调校、工程验证和生产测试等多个阶段。除显示测量外，Instrument Systems 还提供用于红外光源测试的测量方案，可支持手势识别、目标检测等相关应用；同时提供环境光模拟测试方案，用于评估不同环境光条件下 AR 透视显示的亮度、颜色及对比度表现。

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