
“ 本文介绍了在 PCB 上正确布局 USB 差分数据线的关键原则和实践。主要目标是实现 USB 规范中规定的 90 欧姆阻抗匹配。且应考虑 ESD 保护及完整的地平面。”

USB 的速度标准经历了多次迭代,不同版本的 USB 接口速度差异很大。以下是常见 USB 标准的理论最大传输速度:
USB 1.1 | |||
USB 2.0 | |||
USB 3.0 | |||
USB 3.2 Gen1 | |||
USB 3.2 Gen2 | |||
USB 3.2 Gen2x2 | |||
USB4 Gen2 | |||
USB4 Gen3 |
对于 USB 1.1、USB 2.0,理论最大速度不超过 480 M,因此虽然也需要满足基本的差分对走线约束以及 90 欧阻抗匹配的要求,但对 Layout 的要求并不高,满足通用约束基本都能使用。但对于 USB 3.0 以上的版本,速率从480 Mbps 跃升到 5 Gbps,其布局布线的要求要严苛得多,因为高速信号线对 PCB 上的任何物理瑕疵都极为敏感。
通用 USB 布线约束
首先要记住核心原则:一切为了 90 欧姆阻抗
决定差分阻抗的主要物理参数有四个:
走线宽度 :线越宽,阻抗越低。
走线间隙 :两条线间隙越近,耦合越强,差分阻抗越低。
介质厚度(PP) :走线距离其下方参考平面(通常是GND层)的高度。距离越远,阻抗越高。
介质常数 ():PCB板材的特性。最常用的FR-4材料, 值通常在4.2到4.6之间。
因此,要回答“走线多宽,间距多大?”,必须先确定您的PCB层叠结构,然后使用阻抗计算工具(如Polar Si9000、Saturn PCB Toolkit、华秋 DFM 或 EDA 软件自带的计算器)来反向计算出合适的宽度和间隙。
常见场景下的参考值
尽管没有固定值,但在业界最常见的4层板、FR-4板材、标准叠层设计中,确实有一些被广泛使用的“经验值”或“起始值”。您可以将这些值作为您设计的起点,然后根据您的实际板厂参数进行微调。
以下是一些典型场景的参考值(目标:90Ω差分阻抗):
场景一:最常见的4层板(信号-地-电源-信号)
层叠:顶层(信号)到第二层(地)的介质厚度通常在 6-8 mil (0.15-0.20 mm) 之间。
铜厚:0.5oz (17.5um) 或 1oz (35um)。
常见组合 1:
线宽: 5 mil (约0.127 mm)
间距: 7 mil (约0.178 mm)
常见组合 2:
线宽 : 6 mil (约0.152 mm)
间距 : 6 mil (约0.152 mm)
场景二:介质层较厚的情况
如果信号层到参考地层的距离较厚,比如 10-12 mil,为了维持90Ω阻抗,走线需要做得更宽。
可能组合:
线宽 (Width): 7 mil (约0.178 mm)
间距 (Spacing): 6 mil (约0.152 mm)
最佳实践与建议
以上只是理论计算,实际操作时,最重要的步骤是与板厂沟通,向板厂索要他们推荐的层叠结构,这样才能获取各层厚度、介质尝试等信息,用于阻抗的精确计算。
这里推荐一个省事儿的方法,使用华秋 DFM 里的阻抗计算工具。由于华秋本来也是板厂,所以 DFM 工具里可以直接获取到他们家常用的层叠信息,不用再费力地与厂家电话沟通或者去网站上搬运参数。具体使用步骤如下:
1. 打开华秋 DFM 的阻抗计算工具:

2. 设置层数、板厚、内外层铜箔厚度,然后选择玻璃布的型号。这一步很重要,玻璃布的型号决定了很多计算阻抗的关键参数。

以下是常用的玻璃布型号。
在华秋 DFM 中算阻抗最大的优点在于这些层叠结构和华秋实际制造 PCB 时选用的层叠完全一致,不存在沟通上的问题。同时,选取型号后,参数会自动展示在阻抗计算器中,无需手动填写:

3. 输入目标阻抗 90 欧,假设走线间距设为 7 mil,点击“反算”,即可得出差分对的走线宽度:

结果会自动填充到上方的阻抗列表,方便进行再次验证:

地平面的要求
无论是微带线还是带状线,都要求 USB 差分对有完整(不能夸平面)的参考平面,以提供最短的回流路径。尤其是 USB 3.0 以上的版本,这点至关重要。
KiCad 中进行 USB设计
在原理图设计时,必须使用 _P/_N 或 +/- 后缀定义差分对信号:


由于 USB 接口是暴露在系统外的,且经常拔插。因此强烈建议增加 ESD 保护芯片,防止因为静电等意外情况击穿相对较贵的主芯片(如主控CPU、USB控制器、电源管理IC等)。任何与外界直接相连的接口,都必须考虑静电放电(ESD)和电磁干扰(EMI)的防护。在靠近USB连接器的数据线和电源线上,应合理布局ESD保护器件(如TVS二极管)和共模电感(Common Mode Choke)。ESD器件能够瞬间钳位有害的静电电压,保护后级电路;而共模电感则能有效抑制差分线上的共模噪声,进一步提升信号的抗干扰能力。这些防护器件的布局原则是尽可能靠近连接器,在有害能量进入主板深处之前就将其吸收或滤除。
在做 PCB Layout 时,需要注意以下几点:
1. 如果差分对在顶层或底层(微带线),下方必须有完整的参考地平面,不允许出现信号跨越平面的情况。




USB 3.0 的额外要求
对于USB 3.0,需要将这些原则执行得更加极致,并关注以下几个特殊且关键的要求:
1. 严格的阻抗控制:不止是 D+/D-
USB 3.0引入了全新的SuperSpeed差分对:一对用于发送(SSTX+/SSTX-),一对用于接收(SSRX+/SSRX-)。这两对线路与原有的USB 2.0的D+/D-线路是独立的。
目标阻抗:所有SuperSpeed差分对(SSTX和SSRX)都必须严格控制 90欧姆 ±7% 的差分阻抗。相比USB 2.0的90欧姆±15%,这个容差要求严格了一倍。这意味着您需要通过PCB叠层设计和阻抗计算工具,精确确定走线的宽度、间距和参考平面距离。
D+/D-线路:同时,板上的D+/D-线路仍需保持90欧姆的差分阻抗,以兼容USB 2.0模式。
2. 极致的差分对内等长控制
在5 Gbps的速率下,信号传播时间的微小差异都会导致数据采样错误。
对内等长:SSTX+与SSTX-之间的长度差异,以及SSRX+与SSRX-之间的长度差异,必须控制在极小的范围内。业界通常建议不超过5 mil(0.127毫米)。这通常需要通过在较短的走线上添加蛇形线来进行精确补偿。
请注意,SSTX差分对与SSRX差分对之间不需要做等长匹配。
3. 明确的隔离与间距要求
高速信号非常容易受到外部噪声的干扰,也容易对外产生干扰。
远离噪声源:SuperSpeed差分对应远离晶振、时钟线、开关电源(SMPS)以及其他周期性信号线路。一个常用的经验法则是 “3W原则” ,即高速线与其他信号线的间距应至少是线宽的三倍。
差分对间距:为防止串扰,SSTX与SSRX差分对之间,以及它们与D+/D-差分对之间,都应保持足够的距离,建议至少保持 20 mil(0.5毫米)以上的间距。
4. 完整的参考平面与最短的回流路径
这是所有高速设计的基础,但在USB 3.0中尤为重要。
连续的参考平面:SuperSpeed差分对的走线下方必须是完整且连续的地平面(GND Plane)。绝对不允许跨越地平面分割区域。信号的回流路径会沿着走线正下方的地平面返回源端,任何中断都会极大破坏阻抗连续性,形成天线效应。
多层板是标配:强烈建议使用至少四层板(信号层-地层-电源层-信号层)。这样可以为高速信号提供一个理想的、低阻抗的参考平面。
5. 最小化并优化过孔(Via)的使用
过孔是高速信号路径上的“天坑”。
尽量避免:在SuperSpeed差分对的路径上应尽一切可能避免使用过孔。过孔会引入寄生电容和电感,是严重的阻抗不连续点。
必须使用时:如果实在无法避免,必须成对、对称地使用过孔,并在过孔旁放置“接地过孔”(Stitching Via),以确保信号回流路径的连续性。
USB 2.0 vs USB 3.0 布线关键差异
差分对数量 | |||
差分阻抗 | |||
对内长度匹配 | < 5 mil (0.127mm) | ||
走线长度 | |||
PCB层数建议 | 强烈建议4层或以上 | ||
过孔使用 | 极力避免,必须优化 |
简而言之,USB 3.0的布局布线不再是简单的“把线连上”,而是需要运用射频和微波领域的信号完整性知识。每一个转角、每一个过孔、每一毫米的长度差异,都可能成为影响最终性能的决定性因素。
结束语

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