7月10日 南京:芯片测试线下技术交流

EETOP 2025-07-02 08:15
开头的图.jpg



大会基本信息


PART01

NI一直致力于“在中国,为中国”,此次研讨会将聚焦LabVIEW最新技术和全新框架,新产品介绍及应用方案展示。同时,还根据城市产业特点,选择工程师和技术专家最感兴趣的话题,与NI资深研发同事进行深入交流,共同探讨测试测量新技术发展和应用。


南京站即将起航,诚邀您相聚共破智能测试之局!


活动时间


2025年7月10日,14:00-17:10(12点30开始签到)


活动地点


南京紫峰洲际酒店六楼钟山宴会厅

(地址:南京市鼓楼区中央路1号)






码上报名
NI测试测量技术研讨会南京站






论坛议程剧透


PART02
南京站.jpg





重磅展品


PART03
  • LabVIEW+开源大模型实机演示

  • NI DataLink解决方案

  • 基于NI FPGA的机电作动器半物理仿真系统

  • 基于SDR的下一代频谱识别参考架构

  • 半导体参数测试仪

  • Wi-Fi 7/UWB测试解决方案

  • 半导体数模转换芯片(ADC)测试方案

  • 基于PXI平台的MZM调制器测试方案

  • 全新数据采集产品系列——mioDAQ

  • 5G NR应用架构

  • 基于Opal eHS的桌面MCU/OBC HIL测试

  • 基于PanoCar的ADAS HIL系统
        


现场压轴大奖


PART04

🎁大会抽奖

  • Beats 耳机 

  • 小米口袋打印机

  • 小米桌上风扇

image.png




码上报名
NI测试测量技术研讨会南京站




声明:内容取材于网络,仅代表作者观点,如有内容违规问题,请联系处理。 
测试 芯片
Copyright © 2025 成都科技区角科技有限公司
蜀ICP备2025143415号-1
  
川公网安备51015602001305号