从工艺妥协到设计自由:华大九天Optimus的面板光刻校正方案

华大九天 2026-09-22 10:00

从工艺妥协到设计自由:华大九天Optimus的面板光刻校正方案图1


导语


设计构想与光刻实现之间的落差,是高端显示行业长期面临的现实困境。传统校正能力的上限,持续制约着高PPI、异形与极窄边框产品的迭代。随着Optimus在面板领域实现量产导入,这一局面正在被彻底改写:打破 "设计迁就工艺" 的固有模式,重构大屏光刻设计-制造逻辑,释放下一代显示的创新潜力。



背景:高端显示面临设计-制造的挑战


随着OLED、柔性显示、超高 PPI以及极窄边框产品快速发展,面板对光刻图形转移精度、全域成像均一性(global uniformity)、量产周转效率等提出更高标准。在缺少先进OPC校正手段的传统制造模式下,光刻工艺带来的各类图形缺陷会沿生产链路向下传递:拐角(corner)位置形貌畸变突出;易产生桥接(bridge)风险;多层金属工艺爬坡阶段会出现显著CD loss,CD 尺寸异常偏小,存在断线(pinch)隐患。由此产生的问题会引发器件性能恶化、图形失真、画面均一性异常,压缩产品设计规格,给量产带来不确定性。


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Empyrean Optimus® 依托三项原创核心技术,构建“设计可落地、工艺可复现、量产可规模化”的计算光刻底座。


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传统光刻校正的瓶颈

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传统校正体系根植于早期面板工艺,面对新一代高端显示需求,瓶颈日益凸显:


瓶颈一:跨层耦合引发CD loss,挤压器件工艺窗口


传统校正只进行单层版图仿真,忽视了底层形貌起伏与反射带来的光学耦合效应,由此产生跨层CD loss。关键尺寸发生漂移后,TFT电学参数随之波动。为规避失效风险,只能放宽设计边界、降低产品指标,造成规格被动降级,严重时会出现批次电性不良。


瓶颈二:正交算法局限,异形图形畸变制约设计创新


原有算法以正交(Manhattan)图形作为优化基础,针对斜向走线、异形像素、任意角度(any angle)多边形,校正能力不足,曝光后图形边角扭曲、轮廓失真。大量创新的像素架构与布线方案无法实现,设计不得不向工艺妥协。


瓶颈三:超大版图校正,精度与迭代效率难以兼顾


对于面板超大版图,传统校正方案分块计算拼接,资源消耗大、耗时久,难以匹配 Tape out迭代节奏。为保障交付时效,用户往往退而采用Cell based方案,复用同一套补偿参数,忽视板内实际工艺差异,造成面板中心与边缘CD出现偏差,引发边缘器件电性偏移、屏体形貌劣化等风险。校正精度与迭代效率难以兼顾,是行业长期面临的困境。


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Optimus的FPD光刻关键技术

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针对上述瓶颈问题,Optimus采用针对面板工艺特点设计的算法架构,从底层逐一解决。


TOPO Model技术:解决跨层CD loss


摒弃单层独立仿真模式,采用多层拓扑光学建模,完整表征图层之间光学耦合作用。通过全域关联仿真,提前预判并抵消多层成像干扰,稳定TFT关键尺寸,从源头抑制跨层CD 失真,维持器件工艺窗口。


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Any-angle修正技术:提升版图设计自由度


不再受正交图形的算法约束,构建全角度自适应修正引擎。对斜向走线、异形多边形、不规则轮廓实现精细化掩模校正,消除图形畸变与边缘失真,做到“设计所想,光刻所见”,使异形屏、高精细像素的创新设计能够落地。


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Full-panel校正技术:兼顾校正精度与迭代效率


针对面板版图的特征,采用Hybrid Mode混合校正技术:AA像素阵列利用图形重复性,以hierarchy模式高速运算;边框、GOA驱动电路等外围复杂区域使用flat模式保障校正精度。算法模式根据图形特征自动切换,避免了Cell based替换带来的中心 边缘CD不一致问题,可高精度还原边框驱动电路图形,支撑极窄边框、超高屏占比设计。在保证整面panel成像均匀的同时,显著缩短运算耗时,适配产线高频产品迭代节奏。


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产线应用与实测效果

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Optimus解决方案已在国内头部面板厂商实现100%导入,海外主流面板厂商正规模化导入,覆盖OLED、高精细LCD、异形显示等多条先进生产线。结合产线的实际应用情况,在微观图形、宏观表现、整体制造体系三个层面带来了可量化的改进:


微观层面:优化光刻形貌,提升CD控制能力


多层结构、任意角度异形图形的形貌一致性显著改善,有效抑制跨层耦合带来的图形轮廓失真,CD误差降低约50%,从源头降低了器件电性偏移的风险。


宏观层面:提升CD均一性,释放设计空间


OPC校正抑制了工艺扰动带来的CD波动,大板多点CD均一性明显改善。面板全域CD的3σ降低约60%,GOA及外围电路工作稳定性增强,极窄边框、高屏占比的设计窗口随之拓宽,研发阶段的设计妥协明显减少。


整体制造体系:缩短迭代周期,降低验证成本


光刻工艺风险得到前置管控,依托TOPO Model的准确性以及Full panel超大版图计算优势,产品Tape out迭代周期压缩约20%,加快设计-制造的收敛,减少流片验证阶段的反复调试。


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下一代产品的演进方向

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面向下一代高PPI OLED、柔性折叠显示、极致窄边框等前沿产品形态,Optimus的迭代将沿两个方向推进:一是以Full-panel Hybrid Mode架构为基础,强化panel边缘与边框驱动电路的处理能力,支撑极窄边框与多功能集成一体化屏体设计;二是提升多层耦合仿真与复杂异形图形处理的性能上限,不断拓展面板工艺的边界,助力客户将更多前瞻性设计构想转化为量产产品。


结 语

Empyrean Optimus®以模型为基础,把关键器件CD管控、任意角度图形修正、Full panel版图校正汇入同一流程,在目标版图、仿真轮廓与实做结果之间建立可验证的闭环,兼顾设计自由度与量产稳定性。先进显示如驶向深海的大船,“哪里漏水补哪里”的经验式打补丁终有上限;真正长久的竞争力,是从底层建立一套自洽的预测与校正体系。行稳,方能致远。



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北京华大九天科技股份有限公司(简称“华大九天”)成立于2009年,一直聚焦于EDA工具的开发、销售及相关服务业务,致力于成为全流程、全领域、全球领先的EDA提供商。


华大九天主要产品包括全定制设计平台EDA工具系统、数字电路设计EDA工具、晶圆制造EDA工具、先进封装设计EDA工具和3DIC设计EDA工具等软件及相关技术服务。其中,全定制设计平台EDA工具系统包括模拟电路设计全流程EDA工具系统、存储电路设计全流程EDA工具系统、射频电路设计全流程EDA工具系统和平板显示电路设计全流程EDA工具系统;技术服务主要包括基础IP、晶圆制造工程服务及其他相关服务。产品和服务主要应用于集成电路设计、制造及封装领域。


华大九天总部位于北京,在南京、成都、深圳、上海、香港、北京亦庄、西安、天津、武汉和重庆等地设有全资子公司,在厦门、苏州等地设有分支机构。 


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