作为新兴的国产高端CMOS图像传感器芯片设计企业，元视芯战略核心精准锚定于技术壁垒最高的车规级CIS领域。公司直面汽车应用，对可靠性、安全性与长效稳定性有着极致要求，致力于打造符合严苛车规标准的前沿产品。凭借深厚的技术积淀与创新活力，元视芯已快速在这高价值赛道建立起核心竞争力，展现出引领国产替代的巨大市场潜力。
广立微（Semitronix）与元视芯有着较长的合作历程。作为广立微较早用户，元视芯在自身技术发展的关键阶段便引入了广立微的解决方案，双方的合作已持续多年并不断深化。广立微DE-YMS系统强大的数据挖掘与快速、精准的根因定位能力，提升了元视芯的良率分析效率，为其产品快速迭代与高质量交付提供了坚实保障。
在追求极致安全与可靠的车规级芯片出货过程中，Ink是不可或缺的操作。广立微DE-YMS系统，为此带来了成熟可靠的解决方案：
智能规则驱动：通过执行INK Rule，实现精准、自动化的INK判断
结果清晰可视：将结果转化为直观的Trend，结合CP对比分析，决策一目了然
全流程可追溯：完整的Wafer Ink History记录，为品质溯源与工艺优化提供坚实的数据基石
广立微DE-YMS现已封装多达20种核心判定规则（Rule），并仍在持续丰富，以精准应对日益复杂的应用场景。面对各厂商对Inkless Map数据格式的特定要求，DE-YMS提供了高度灵活的配置界面，简化适配流程。
针对深度客制化的高端需求，系统更开放基于Python的定制化编程接口，确保无论格式要求如何特殊，用户都能高效、准确地完成数据导出。
Tester Usage（测试设备使用率）是把控产能、成本与交付风险的关键。这关系到供应链管理的效率，想要精准管控测试环节的成本、交期，同时保障合作稳定性，通常需要实时监控 OEE%（设备综合效率）、Hours/Day（每日运行时长）、WPH（每小时产出）等关键数据。但传统模式下，这些数据依赖工程师人工统计，不仅耗时费力，还容易出现误差。
广立微 YMS 系统自动解析数据并完成指标统计，工程师无需再进行重复核算。从发起数据查询到结果呈现，整个过程能在半分钟内完成，大幅提升了测试环节的管理效率。
对工程师来说，“定制化 + 重复性” 的分析场景堪称 “双重难题”—— 既耗精力，又难高效解决。
这类场景的痛点很明确：分析需求是定制化的，相对特殊；工作内容却有重复性，每次都要手动投入人力做相同流程，既浪费时间，还容易因重复操作出错。
而广立微 YMS 系统搭配 Drill down 功能，直接针对性破解了这个困局，工程师可根据自身需求，搭建自定义数据分析模板，完全匹配定制化场景。
开启Auto Run 功能，设定好时间后，系统会自动按模板执行分析：
分析结果生成后，会直接发送到用户邮箱，也可在网站中下载，全程无需工程师手动介入。
这套流程，工程师不用再为重复分析消耗人力，能把时间聚焦到更核心的技术工作上。
这几年与广立微的合作过程中，YMS系统长期保持稳定运行，背后的技术支持更是响应迅速，遇到问题时能快速落地解决，完全不用为 “系统趴窝” 或 “售后滞后” 焦虑。
随着业务推进，数据量持续增长，DE-YMS 系统在数据处理上的优势也越来越明显，能高效应对，操作便捷性大幅提升，省去了不少人工耗在数据上的时间。
尤其值得一提的是车规产品 INK 操作—— 流程简化、步骤清晰，不用反复摸索复杂操作，工程师上手快使用门槛低。
元视芯成立于2021年11月，依托领先的核心技术，如端侧AI、LOFIC融合感知、计算光学和高速高精度ADC，致力于开发面向汽车与机器人、消费电子、AR与VR等领域的高性能视频CIS芯片，推动智能时代的到来。公司总部位于深圳，在上海、成都、西安以及海外设有研发中心。公司是全球唯一成功将2D LOFIC技术应用于车规级CIS图像传感器的供应商。
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关于我们
杭州广立微电子股份有限公司（股票代码：301095）是领先的集成电路EDA软件与晶圆级电性测试设备供应商，公司专注于芯片成品率提升和电性测试快速监控技术，是国内外多家大型集成电路制造与设计企业的重要合作伙伴。公司提供EDA软件、PDA软件、大数据分析软件、电路IP、WAT电性测试设备以及与芯片成品率提升技术相结合的整套解决方案，在集成电路设计到量产的整个产品周期内实现芯片性能、成品率、稳定性的提升，成功案例覆盖多个集成电路工艺节点。
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