8月20日上午,2026集成电路设计创新会议(ICDIA 2026)在南京正式开幕,大会以“AI赋能·智创芯未来”为主题,汇聚国内外集成电路产业链上下游专家、企业代表、高校学者与投资机构,共探产业创新发展之路。
国家02重大专项总工程师、中国科学院微电子研究所研究员、国际欧亚科学院院士叶甜春先生在会上带来主题报告。

回望产业来路:中国集成电路工艺发展历程
叶甜春表示,我国集成电路产业走过一条螺旋式上升的发展道路,想要看清未来发展方向,就有必要回望整个产业的发展来路,从历史演进中汲取经验,寻找创新破局的思路。
他在回顾上世纪50-70年代时表示,在国家的十二年科学技术发展远景规划中,半导体被列为四大紧急措施之一。面对外部封锁,以王守武、黄昆为代表的归国科研学者带领国内科研人员,从实验室起步,逐步搭建实验及生产工厂,建立起国内半导体学科、人才与早期工业基础。
进入八九十年代,国内开启对外开放下的产业探索,先后落地33条技术引进生产线,其中909工程引入日方技术与管理力量来建设华虹产线。这一时期大量工厂转型,仅部分科研院所与清华、北大、复旦等高校坚持技术研发,工艺进一步迭代至0.35微米。
2006年国家发布中长期科技发展规划纲要,设立16项科技重大专项。叶甜春作为02重大专项的技术总师,他表示项目经历十余年,工艺研发从22nm推进至14nm甚至更先进制程,并建成完整28nm工艺能力。
产业现实挑战:补齐高端产品短板
面对行业现状的发展方向,叶甜春表示,行业早已形成“以产品为中心,以行业解决方案为牵引”的发展共识。当前我国集成电路自主可控的基础已经基本建立,28nm以上工艺能够覆盖约80%的芯片品类。
他认为,我国拥有完备的工业体系,但芯片产品对于电动车、家电、电网、轨道交通等实体经济领域的支撑能力仍有提升空间。国内芯片销售规模可观,但多数产品集中在中低端,成熟制程同样存在高端产品供给不足的问题,在高端客户市场还没有实现完全突破。他还特别指出,不能简单认为只要拿到EUV设备,我国集成电路的全部难题就能够得到解决。
在他看来,行业需要跳出摩尔定律单纯依靠等比例缩小的固化思路,不追求简单的技术超车,而是要开辟全新赛道,重塑产业生态。集成电路的创新逻辑也要随之转变,未来应当从系统创新、设计创新出发,三维异质集成将是十分重要的发展方向。
FinFET器件工艺:国产技术取得全球性贡献
在工艺演进方面,叶甜春表示,其科研团队在FinFET技术方向累计形成千余项专利,多项代表性技术实现突破,包括栅极应变和高k/金属栅氮等离子体处理技术、自对准晕环和防穿通阻挡新结构,该结构能够把关态电流降低80-90%,还有原创的单扩散隔离技术,可以在同等光刻条件下节省20%的芯片面积。
叶甜春在报告介绍,在WIPO引用的LexInnova 2016 年 FinFET 专利调研数据中,中科院微电子所跻身全球FinFET专利申请人榜单前列,是中国大陆唯一进入该榜单前20的机构。自FinFET实现量产以来,英特尔、三星、台积电等多家国际头部厂商均在应用该团队相关技术,体现出我国在前沿集成电路器件技术领域已经形成系统性贡献。中科院微电子所也通过开展跨国专利维权,并完成相关技术许可落地。对此,叶甜春也客观地指出,目前我国整体产业依旧处于防守态势,仅局部具备技术反击能力,本土企业在更先进工艺量产层面仍然面临现实挑战。
在下一代GAA器件技术领域,叶甜春介绍了团队的最新科研进展,其团队攻克复杂的表面损伤修复技术,实现近原子层刻蚀,沟道表面损伤带来的界面态密度降低96%,器件亚阈值摆幅达到60.3mV/dec,已经接近理论极限。后续,团队将通过解剖生产后的GAA产品,进一步验证技术的落地效果。
叶甜春在报告末尾总结,集成电路产业不能一味跟随海外的技术路线,要敢于走出属于中国自己的创新道路。FinFET技术已经取得重要突破,三维异质集成将是未来产业的关键突破口。中国半导体行业挑战与机遇并存,对于未来发展前景,他表达充分信心。
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